فیلترها/جستجو در نتایج    

فیلترها

سال

بانک‌ها




گروه تخصصی











متن کامل


اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1394
  • دوره: 

    4
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    43-53
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1116
  • دانلود: 

    292
چکیده: 

در این مقاله عملکرد حفاظت از خوردگی همزمان لایه نازک خودمجتمع فتالوسیانین مس سولفونه شده (CuPh) با پوشش نانوساختار هیبریدی آلی- معدنی بر فولاد ساده کربنی در محلول اسیدی مورد بررسی قرار گرفت. سل هیبریدی از طریق هیدرولیز و تراکم اسید کاتالیست 3- متا اکریلوکسی پروپیل تری متوکسی سیلان (TMSM) و تترا اتوکسی سیلان (TEOS) در نسبت مولی 1:1 سنتز شد. مورفولوژی و ترکیب فولاد ساده کربنی با پوشش هیبریدی و لایه نازک خودمجتمع CuPh توسط SEM، EDX و FTIR بررسی گردید. عملکرد حفاظت در برابر خوردگی پوشش های هیبریدی در محلول 0.5 مولار هوادهی شده اسید کلریدریک توسط آزمون های پلاریزاسیون پتانسیوداینامیک و طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی (EIS) تحقیق شد. فیلم های خودمجتمع CuPh در زیر پوشش هیبریدی تاثیر قوی بر روی مقاومت به خوردگی پوشش هیبیریدی -وقتی نمونه 24 ساعت در محلول 1 میلی مولار CuPh غوطه ور شود- نشان داد. اضافه کردن بازدارنده به سیستم حفاظت از خوردگی، محافظت از فولاد ساده کربنی را تا %94 در محلول نیم مولار اسید کلریدریک بهبود بخشید. تحقیق حاضر نشان می دهد که این سیستم حفاظتی ضد خوردگی می تواند در محیط خورنده استفاده شود.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1116

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 292 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

بهفروز محمدرضا

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1385
  • دوره: 

    1
  • شماره: 

    2
  • صفحات: 

    67-76
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    799
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

با استفاده از دستگاه "پرتابه مکتترون جریان یکسو " در درون پلاسمای آرگون، لایه های ایریدیم در روی زیر لایه ابر صیقل شده سیلیکا لایه گذاری گردید. اثر پارامترهای روش لایه گذاری در کیفیت ناهمواری لایه نیز مورد بررسی قرار گرفت. بعلاوه ثابت های اپتیکی لایه با استفاده از بیناب نمایی بیضی سنجی با زاویه متغیر در بازه طول موج فرابنفش تا میان فرو سرخ تعیین گردید. همچنین اندازه گیری میزان ناصافی سطح لایه بوسیله میکروسکپی نیروی اتمی انجام گرفت.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 799

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1386
  • دوره: 

    3
تعامل: 
  • بازدید: 

    320
  • دانلود: 

    181
کلیدواژه: 
چکیده: 

در این تحقیق فیلم های نازک آهن پایه باترکیب Fe78Si9B13 به کمک روش لایه نشانی لیزری رشد داده شدند هدف تحت خلا پایین در معرض باریکه لیزر Nd:YAG قرار گرفته است. با استفاده از آنالیز پرتو ایکس از آمورف بودن فیلم اطمینان حاصل کرده ایم و آنالیز پس پراکندگی رادرفورد نیز به منظور اطلاع از ترکیب نمونه ها به کار رفته است. نتایج نشان داده است که ترکیب شیمیایی هدف عینا به زیرلایه منتقل شده است. خواص مغناطیسی آن مانند چرخش کر مورد تحقیق قرار گرفته و همچنین وجود قطرک ها روی سطح فیلم بررسی شده و چگونگی تغییر آن با اعمال جریان و اندازه گیری ولتاژ هال مورد بررسی قرار گرفته است.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 320

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 181
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1393
  • دوره: 

    1
تعامل: 
  • بازدید: 

    306
  • دانلود: 

    374
کلیدواژه: 
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (PDF) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 306

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 374
نویسنده: 

مشفق علیرضا

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1385
  • دوره: 

    7
تعامل: 
  • بازدید: 

    382
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

اصولا ذرات در مقیاس نانومتری دو ویژگی مهم دارند که عبارتند از: 1- از قوانین فیزیک کلاسیک در مورد اغلب پدیده های مربوط به آنها دیگر تبعیت نمی کنند بلکه از قوانین مکانیک کوانتمی استفاده می نمایند. لذا خواص اپتیکی، الکتریکی و مغناطیسی آنها در مقایسه با توده (bulk) همان ماده تغییر می کند. 2- با کاهش اندازه ذرات، نسبت سطح به حجم (A/V) سیستم زیاد می شود که این خاصیت از ویژگی های مهم و بارز کلیه سیستمهای متکامل نظیر مغز انسان، مدارات مجتمع (IC)، کاتالیستها و غیره است.در این مقاله، ابتدا اصول و مبانی علوم و فناوری نانو در سیستم های دوبعدی مشخصا لایه های نازک توصیف می گردد. سپس به کاربردهای مختلف نانوتکنولوژی در حوزه های گوناگون اشاره خواهد شد در ادامه، تکنیک های مختلف ساخت لایه های نازک به روش های فیزیکی و شیمیایی در مقیاس نانومتری ذکر می گردد.به منظور بررسی خواص سیستم های نانومتری به بعضی از نتایج تحقیقات اخیر گروه ما در زمینه ساخت لایه های نازک سیستم های نانومتری WO3/SiO2، Au/SiO2، CuOx/SiO2، Cu/SiO2،Ag/SiO2  و سیستمهای چند لایه ای نانومتری Co/Wx-Ta1-x/Si(100)، Ag/Ti/Co/Si(100)،Ag/W/Co/Si(100)  و Ni(Pt 5% at.)/Si(100) اشاره خواهد شد. در خاتمه، نتایج بکارگیری تکنیک های آنالیز مواد شامل اسپکتروسکوپی الکترونهای اوژه، اسپکتروسکپی فتوالکترونهای اشعه X، میکروسکوپ الکترونی عبوری، میکروسکوپ الکترونی رویشی، پراش اشعه ایکس، اسپکترومتری پس پراکندگی راترفورد برای سیستمهای مزبور ارایه می گردند.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 382

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1393
  • دوره: 

    3
تعامل: 
  • بازدید: 

    417
  • دانلود: 

    130
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (PDF) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 417

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 130
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
نشریه: 

مواد نوین

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1393
  • دوره: 

    5
  • شماره: 

    1 (پیاپی 17)
  • صفحات: 

    83-93
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    1681
  • دانلود: 

    304
چکیده: 

فلز مس به دلیل ویژگی های مطلوب مکانیکی و الکتریکی کاربردهای صنعتی بسیاری دارد. اگر چه فلز مس و آلیاژهای آن عموما به عنوان مواد مقاوم در برابر خوردگی شناخته شده اند، ولی با توجه به محیطی که در آن بکار گرفته می شوند، هنوز انواع گوناگونی از خوردگی را متحمل می شوند که عموما کاربرد عملی آن ها را محدود می کند. روشی موثر که می تواند این مشکل را حل کند، اصلاح سطح با استفاده از فیلم های لایه نازک خود مجموعه ساز است. تک لایه های خودمجموعه ساز سامانه های ساده و انعطاف پذیری هستندکه به عنوان یک لایه ایزوله عمل کرده و از نفوذ کلرید به سطح جلوگیری می کند. در این پژوهش، دو شیف باز N و N’ بیس (سالیسیدن) 1 و 3 پروپان دی آمین (شیف باز1) و N و N’ بیس (4 متوکسی سالیسیدن) 1 و 3 پروپان دی آمین(شیف باز2) به صورت لایه نازک خود مجموعه ساز به عنوان بازدارنده خوردگی مس در محلول اسیدکلریدریک 0.5 مولار سنتز و بازده بازدارندگی آن ها به وسیله آزمون های پلاریزاسیون پتانسیودینامیکی و طیف نگاری امپدانس الکتروشیمیایی، بررسی شد. نتایج آزمون پلاریزاسیون نشان داد که این تک لایه های خود مجموعه ساز به عنوان باردارنده های مختلط عمل می کند و هر دو فرآیند کاتدی و آندی را متوقف می سازد. افزایش قطر منحنی ها در اندازه گیری های امپدانس نشان می دهد که تک لایه ها به عنوان بازدارنده های خوبی عمل می کنند. نتایج بدست آمده از روش پلاریزاسیون و امپدانس از مطابقت مطلوبی برخوردارند و نشان می دهند که با افزایش غلظت بازدارنده، بازدارندگی تا 95 درصد افزایش می یابد. ورود گروه متوکسی در حلقه بنزن شیف باز نیز در کل باعث افزایش بازده بازدارندگی شیف باز شد که می تواند ناشی از اثرات دهندگی الکترون و اثرات آب گریزی این گروه باشد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1681

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 304 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 1
همکاران: 

کورس-حمزه

کارفرما: 

جهاد دانشگاهی

اطلاعات : 
  • تاریخ پایان: 

    آبان 1368
تعامل: 
  • بازدید: 

    350
کلیدواژه: 
چکیده: 

در انجام این پروژه پس از انتخاب مشخصات کلی محصول (مدارهایبرید لایه نازک) فرآیندهای تولید شامل مراحل: نشاندن لایه های لازم (Substrate Coating)، ساخت ماسک (Mask Fabrication)، انتقال طرح تصویربردای (Photo Lithography)، عملیات شیمیایی، انجام اتصالات (Bonding) و بسته بندی (Packaping) مورد مطالعه و تحقیق قرار گرفت و ضمن آموزش پرسنل فنی مشخصات فنی تجهیزات و تاسیسات و دستورالعمل های مورد نیاز خط تهیه گردیده بر اساس تجربیات قبلی در ساخت نمونه مدارات لایه نازک «مایکروویو»، مطالعات و بازدیدهای تکمیلی انجام شد، و تجهیزات عمده خط تولید انتخاب و فرآیندهای مناسب تعیین گردیدند.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 350

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1391
  • دوره: 

    2
تعامل: 
  • بازدید: 

    382
  • دانلود: 

    643
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (pdf) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 382

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 643
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1395
  • دوره: 

    13
تعامل: 
  • بازدید: 

    407
  • دانلود: 

    250
کلیدواژه: 
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (PDF) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 407

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 250
litScript
telegram sharing button
whatsapp sharing button
linkedin sharing button
twitter sharing button
email sharing button
email sharing button
email sharing button
sharethis sharing button